各潜在供应商：

根据学院发展需求及提高学校的科研实力，拟采购场发射透射电子显微镜，经初步市场需求调研及对产品性能与业务需求的关联性进行充分的论证，认为国内产品无法满足本项目采购需求，拟采购技术性能先进的进口产品，根据《晋江市财政局转发关于进一步做好政府采购进口产品审核工作的通知》晋财【2021】258号文件规定，现将本项目采购需求挂网予以公示，征询潜在供应商响应。

1．工作条件:

1.1电源: 220V (±10%) / 50Hz

1.2 主机功耗：< 3.0 kVA

1.3运行环境温度: 17-23°C

1.4运行环境：在20 °C下，相对湿度< 80%，建议低于50% (无冷凝)

2．设备用途：

2.1高分辨透射电子显微分析系统主要用于各种材料的超高分辨形貌分析、结构分析和成分分析，进行二维或三维的快速、精确的形貌观察和微区结构的表征，获得非晶材料的质厚衬度像，多晶材料的衍射衬度像，和单晶薄膜的相位衬度像 (原子像)。

3.基本性能指标（优于或不低于下列指标）：

3.1分辨率：

3.1.1 点分辨率：优于0.25nm

3.1.2 线分辨率：优于0.10nm

3.1.3 信息分辨率：优于0.12nm

3.1.4 STEM-HAADF分辨率：优于0.16nm

3.2. 加速电压：

3.2.1加速电压：20kV-200kV；加速电压连续可调；

3.2.2加速电压稳定度：≤ 1ppm/10min

3.3． 电子枪：

3.3.1电子枪类型：超高亮度高稳定度的肖特基场发射电子枪；

3.3.2 电子枪亮度：≥ 1×109 A/cm2 /sr；

3.3.3束流：1nm束斑电流 ≥ 1.5 nA；最大束流 50nA；

3.3.4束斑漂移：≤ 1nm/min；

3.4. TEM放大倍率：

3.4.1 TEM放大倍率范围：25×–1.05M×；

3.4.2 TEM放大倍数重复性：≤1.5%；

3.5. 电子衍射：

3.5.1 最大会聚半角 (CBED) ：≥ 100mrad

3.5.2最大衍射角：24°

3.6. 相机长度：14 - 5700 mm

3.7 物镜：

3.7.1 X-TWIN高分辨物镜极靴具有宽阔的极靴空间，极靴间距大于5 mm；保证三维重构杆、双倾杆以及各种原位杆的适用性及最大转动角度。

3.7.2采用恒功率透镜设计。透镜的温度保持恒定，消除在不同高压不同模式切换以及放大倍数调整时产生的热效应；保证三维重构等长时间应用在成像与分析时的稳定性，以及不同高压不同模式切换时各级透镜系统参数的稳定性与已存储参数的可用性。

3.8. 扫描透射系统(STEM)：

3.8.1分辨率：≤0.16 nm

3.8.2配备不少于三个STEM探头，包括高角环形暗场探测器（HAADF）和同轴明场/暗场探测器；能够同时采集或通过离线数据分析获得不少于四幅来自不同角度的电子信号的图像，包括明场（BF）、暗场（DF）、环形暗场（ADF）、环形明场（ABF）、高角度环形暗场（HAADF）、相位衬度像(DPC)以及积分相位衬度像(iDPC)等

3.8.3 配备不少于16分割的多分割STEM探头；多分割探头具备实时DPC/iDPC成像功能，可在STEM模式下直接对样品的磁场、电场等内势场进行研究，也可在同一幅STEM图像中同时获取轻重元素的清晰衬度。

3.8.4 配备STEM像差自动优化模块，可自动调整STEM模式的电子光学系统以自动聚焦及校正像散；

3.8.5 HRTEM和HRSTEM之间切换后稳定时间短，仅需点击鼠标即可在TEM与STEM模式间相互切换，可在几秒种之内完成。

3.8.6 STEM放大倍数范围：310x - 330Mx；

3.8.7 STEM和EDS可同时采集数据和能谱分析，实现多维快速化学分析和成像。控制软件具有可进行在线或后续的离线分析，实现在同一点的多种模式或手段的综合分析。

3.8.7 配备20微米聚光镜光阑，有机物厚样品高分辨率 STEM微束模式合轴校准及易损伤样品低剂量曝光系统，适用于MOF,COF,沸石，分子筛及电池材料的分析。

3.9. 样品台：

3.9.1 五轴CompuStage样品台，可存储和复位5维 (x, y, z, α, β) 坐标。

3.9.2样品移动范围：X/Y： ± 1mm；Z ±0.375 mm；

3.9.3 高视野低背底双倾样品杆最大倾斜角度：α: ±35°，β：±30°

3.9.4 最大测角台倾斜角度：±80°(α)

3.9.5 样品台漂移（使用标准样品杆）：≤ 0.5nm/min

3.10. 能谱仪(EDS) 技术规格：

3.10.1 EDS探测器：四个对称式电制冷能谱探头，无窗设计，集成在电镜极靴内；以保证样品任何倾转角下的采集效率与精度；

3.10.2检测器有效活区面积：每个探头面积30mm2，总计120mm2；

3.10.3探测器固定于极靴内，并配备保护阀门，防止传统能谱探头插入拔出引起的样品漂移与振动；

3.10.4 能量分辨率：≤136 eV (Mn-Kα)，在输出计数率10 kcps内保持不变；≤140 eV (Mn-Kα)，在输出计数率100 kcps内保持不变。

3.10.5 元素分析范围：Be(4) – Cm(96)；全自动点、线、面分析；

3.11.数字化成像系统：1600万像素CMOS相机

3.11.1 具有4,096 4,096像素及14µm x 14µm像素尺寸，能采集大面积的图像、然后数字放大来获得具体位置的图像。

3.11.2具有大动态范围可以满足拍摄衍射花样，高读取速度（25fps @ 512x 512）还适合拍摄动态录像。

3.11.3安装位置：底部安装。

3.11.4 配备实时漂移校正帧积分(DCFI)功能，以降低样品漂移的影响，保证在TEM及STEM模式获得高衬度高分辨率图像。

3.12. 真空系统：

3.12.1系统构成：完全无油真空系统由机械泵、涡轮分子泵和离子泵构成；

3.12.2真空度：电子枪真空度≤ 5x10-6 Pa；样品区真空度≤ 2 x 10-5 Pa （冷阱）；

3.12.3换样时间≤90秒；

3.12.4更换样品时无需关高压；

3.13. 电镜操作和控制：

3.13.1基于64位Windows 10的计算机控制系统, 所有电镜操作由电镜控制器直接控制，控制命令为100%数字化信号。

3.13.2最新的Velox系统软件，可以通过直观简单的工作流程，实现快速可重复操作，从光学模式设置、探测器选择到采集和分析，快速成功地获得结果。并且可以进行在线或后续的离线分析。

3.13.3能方便地实现常用功能, 包括样品移动、光束移动、放大倍数、模式切换、聚焦、合轴操作等。

3.13.4电镜操作者可以根据需要拥有一套或多套电镜状态参数，每套状态参数相互独立，可在使用过程中迅速切换调用。可设置任意多个用户，每个用户之间的参数设置相对独立，同时还可以相互调用。

3.13.5 配备全自动合轴模块，可用于日常合轴与维护性系统合轴的全自动优化，以保证电子光学系统维持良好的状态，从而稳定获取高质量数据。

3.13.6 配备自动纳米颗粒材料分析解决方案，可以自动实现无人值守、大区域高通量高分辨成像和纳米颗粒（例如合金中纳米析出相）的各类数据统计分析。

3.13.7配备晶带轴自动校正及指定带轴自动倾转模块 (CrystalPack)；

4. 主要配置：

4.1 场发射透射电镜主机 1台，包括：

4.1.1 高分辨分析型极靴电子显微镜基本单元，包括照明系统（包括电子枪和加速电场）、电子光学系统（镜筒，包括聚光镜、物镜、中间镜和投影镜）、载物台与样品杆、真空系统、控制与显示系统等。

4.1.2单倾样品杆和低背景双倾样品杆各1根；

4.1.3电镜控制计算机（带1台24英寸液晶显示器）和数据处理电脑一台；

4.1.4一体化STEM硬件及软件系统 1套；

4.1.5 一体化CMOS数字相机系统，1套。

4.1.6自动纳米颗粒材料分析软件，1套。

4.1.7能谱仪（EDS）系统 1套，包括四个面积30mm2对称式电制冷能谱探头。

4.1.8 易损伤样品低剂量曝光系统，1套。

4.1.9 环境隔离罩1套。

4.1.10 备品备件：电子枪备用灯丝1根；

4.2附属设备及装修。

4.2.1 不间断电源 1台，延时3小时。

4.2.2 冷却水循环系统，1台。

4.2.3空气压缩机，1台。

4.2.4 实验室装修达到具备正常使用的基本条件。

二、国内产品如能同时满足以上采购需求产品技术要求请按以下要求提供响应材料：

1、提交产品技术要求响应表，应针对公示的采购需求技术指标逐条说明拟供产品是否满足，提供明确的证明材料（如产品彩页、检测报告、技术白皮书等），格式自拟。

2、国内供应商对本技术要求如有异议，请提供相关说明及证明材料。

三、以上相关材料请于2023年7月10日17∶00之前采用快递邮寄方式提交至晋江市福大科教园区发展中心实验室建设与设备管理科，送达时间以本单位人员邮件签收时间为准，逾期不予接收。材料需加盖供应商公章(非投标专用章或业务章)，一式一份并注明联系人及联系方式。

材料邮寄地址：福建省晋江市金井镇福州大学晋江校区综合办公楼126室

联系人：周老师

联系电话：18702594746

 

晋江市福大科教园区发展中心

2023年7月3日